Wave-scan II забезпечує контроль зовнішнього вигляду верхнього покриття – бази та лаку.

Сканер wave-scan II характеризується стовідсотковою кореляцією з wave-scan DOI і відкриває нові можливості для вимірювання шагрені/хвилястості та DOI на поверхнях із сильним блиском. Мала вага та відмінна ергономіка wave-scan II роблять процес контролю ще легшим, особливо при використанні на конвеєрі. Новий дизайн полегшує роботу на поверхні зі складною геометрією. Управління та меню стали ще зрозумілішими та зручнішими. .

- Нова система навігації та управління – колесо, як на комп'ютерній миші.

- Об'єм пам'яті збільшився до 1500 значень (раніше – 500).

- Нова док-станція зберігання приладу, заряджання батареї та передачі інформації на PC через інтерфейс USB Wave-scan II зручний для застосування і на плоских, і на викривлених поверхнях (з радіусом кривизни 500 мм), має великий дисплей і USB-порт, вбудовану пам'ять. Шкали вимірювання та довжина шляху сканування задаються на вибір.

  Новий додатковий ІЧ-світлодіод дозволяє вимірювати та аналізувати ті ж самі спектральні структури (0,1...30 мм) на поверхнях із середнім блиском (грунт/праймер). Індекс DOI та ступінь чіткості відображення аналізується за допомогою вбудованої сучасної CCD-камери. Wave-scan II дає нові можливості фахівцям balck belt на автомобільних заводах при аналізі дефектів або невідповідностей фінішного покриття необхідним параметрам. Прилад забезпечує контроль крокрені відповідно до внутрішніх стандартів всіх світових автоконцернів.

Діапазони шагрені для wave-scan II